ExProbe

ExProbe
变量探针 · 数据记录仪

面向嵌入式 MCU 程序调试的变量探针与数据记录工具。 在目标板上高速采集变量,记录数据,帮助您更快定位问题。

功能介绍

  • 读取、修改静态变量和寄存器
  • 支持 64 位变量(double、long long)
  • 高速采集变量、绘制曲线
  • MCU 端主动采样,确保数据同步
  • 丰富的触发选项,精准捕获关键事件
  • 确定的采样频率
  • 灵活分频比,便于采集更多变量
  • 近乎无限的采样点数(ExProbe-RTT)
  • 虚拟通道提供丰富的数据后处理功能
  • 检查固件版本和编译时间
  • 枚举类型同时显示数值和名称
  • 远程调试(ExProbe-CAN、云服务器转发)
  • 变量地址合法性检查(ExProbe-CAN,禁止读取 Flash 等区间)

界面预览

ExProbe 波形显示
ExProbe 波形光标
ExProbe 操作演示

实现原理

编译器输出的 ELF 文件(不同编译器后缀不同,如 .out.axf 等)包含静态变量的地址与类型信息。 用户在 UI 上选择需要读写的变量后,地址和大小信息发给 MCU;MCU 完成读写,并将应答数据回传 PC。

性能及资源消耗

ExProbe-RTT

  • 采集带宽:600KB/s~1.2MB/s(实时传输,受 MCU 端分配的缓冲区大小和 J-Link 性能限制)
  • Flash:约 3.2KB
  • RAM:约 1.7KB(含 RTT,实现约 600KB/s 采集速率;增大 buffer 可实现更高采集速率)
  • 采样时间:每个变量 0.1~0.2μs + 1μs(160MHz STM32G474 测试,变量数量越多,效率越高)

ExProbe-CAN

  • 采集带宽:近乎无限(采集—传输—采集—传输模式,传输速率不会限制采样带宽,仅受 MCU 采样速度限制)
  • Flash:约 8.3KB
  • RAM:约 0.5KB + buffer(buffer 越大,采样点数越大)
  • 采样时间:每个变量 0.2μs(160MHz STM32G474 测试,变量数量越多,效率越高)

版本差异

ExProbe-RTT

能力 基础版 标准版
波形页面数量 1 无限制
波形页面变量数量 8 无限制
波形页面采样点数 200k 无限制
常量与虚拟通道 不支持 无限制
远程打开 Web UI 不支持(仅本机) 支持

ExProbe-CAN

能力 基础版 标准版
波形页面数量 1 无限制
波形页面变量数量 6 无限制
常量与虚拟通道 不支持 无限制
远程调试 不支持 目前免费提供

如何开始

按下列步骤即可开始采集(菜单名称以软件内说明为准)。

  1. 注册账号
  2. 下载软件
  3. 移植 MCU 端代码
  4. 打开后端软件
  5. 打开 Web UI
  6. 新建工程
  7. 选择变量
  8. 开始采样
开始使用 ExProbe

注册账号,下载 PC 端,移植 MCU 代码后即可观测与记录。